Počet záznamů: 1
Detection of signal electrons at higher pressure in the specimen chamber
- 1.
SYSNO ASEP 0205510 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Detection of signal electrons at higher pressure in the specimen chamber Tvůrce(i) Jirák, Josef (UPT-D) RID
Autrata, Rudolf (UPT-D)
Špinka, Jiří (UPT-D)Zdroj.dok. Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr / Frank L.. - Brno : Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - ISBN 80-238-8986-9 Rozsah stran s. 55 - 56 Poč.str. 2 s. Akce Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation Datum konání 08.07.2002-12.07.2002 Místo konání Skalský dvůr Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova scanning electron microscopy ; higher pressures ; surface negative charge Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GA102/01/1271 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z2065902 - UPT-D Anotace The advantages of the scanning electron microscopy working at higher pressures in the specimen chamber are connected with the possibility of observation of specimens structures, which are difficultly observable without previous preparation for microscopes working with pressures in the specimen chamber under 10-2 Pa. The pressure in the specimen chamber up to approx. 2000 Pa brings the possibility of observation of specimens, which release gases, specimens containing liquid phase, including wet biological preparations, reactions on the phase interfaces, etc. At higher pressures in the specimen chamber it is also not necessary - due to neutralisation of the surface negative charge by gas ions - to coat electrically non-conductive specimens by a conductive layer. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2003
Počet záznamů: 1