Počet záznamů: 1
Measurements of Residual Reflectivity and Wavelength of Coated Laser Diodes
- 1.
SYSNO ASEP 0205391 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Measurements of Residual Reflectivity and Wavelength of Coated Laser Diodes Tvůrce(i) Růžička, Bohdan (UPT-D) RID, ORCID
Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Wilfert, O. (CZ)Zdroj.dok. 11th International Czech - Slovak Scientific Conference Radioelektronika 2001 Conference Proceedings. - Brno : Brno University of Technology, 2001 - ISBN 80-214-1861-3 Rozsah stran s. 286-289 Poč.str. 4 s. Akce Radioelektronika 2001 /11./ Datum konání 10.05.2001-11.05.2001 Místo konání Brno Země CZ - Česká republika Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova electron beam vacuum evaporation technique Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP GA101/98/P270 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA2065803 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z2065902 - UPT-D Anotace This contribution presents experimental results obtained by deposition of double-layer system made by means of electron-beam vacuum evaporation technique. We oriented our effort to short-wavelength 633 - 635 nm laser diodes. These devices are emitting close to the wavelength of traditional He-Ne lasers with an intention to use them in extended-cavity laser design for metrological purposes. The resulting reflectivities were evaluated by measuring a testing plate of GaAs and by measuring a "modulation depth" of a coated diode emission spectra. Our best results were reflectivities well below 10 -4 and the repeatibility of the deposition process in a range not exceeding 2x10 -4 . Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2002
Počet záznamů: 1