Noncharging scanning electron microscopy of non-conductors at automatically adjusted critical energies

Počet záznamů: 1

SYSNO	0204994
Název	Noncharging scanning electron microscopy of non-conductors at automatically adjusted critical energies
Tvůrce(i)	Zadražil, Martin (UPT-D) Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy. s. 457-458, General Interest and Instrumentation. / Benavides H. A. C. ; Yacamán M. J.. - Bristol : Institute of Physics Publishing Ltd., 1998
Konference	ICEM /14./ - International Congress on Electron Microscopy, Cancun, 31.08.1998-04.09.1998
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	GA202/96/0961 GA ČR - Grantová agentura ČR
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	MX
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0100614

Počet záznamů: 1