Počet záznamů: 1  

Noncharging scanning electron microscopy of non-conductors at automatically adjusted critical energies

  1. 1.
    Zadražil, M., Frank, L., Müllerová, I. Noncharging scanning electron microscopy of non-conductors at automatically adjusted critical energies. In: BENAVIDES, H. A. C., YACAMÁN, M. J., eds. Proceedings of the 14th International Congress on Electron Microscopy. General Interest and Instrumentation.. Bristol: Institute of Physics Publishing Ltd., 1998, s. 457-458. ISBN 0-7503-0568-1.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.