Počet záznamů: 1
Time-Resolved Reflectivity Studies of Phase Transition in Polycrystalline Si Induced by Excimer Laser Irradiation
SYS 0174191 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20240103175147.0 101 0-
$a eng 102 $a IT 200 1-
$a Time-Resolved Reflectivity Studies of Phase Transition in Polycrystalline Si Induced by Excimer Laser Irradiation 463 -1
$1 200 1 $a Proceedings of Polycrystalline Semiconductors 1995 $v s. 41 $1 702 1 $a Pizzini $b S. $4 340 $1 210 $d 1995 700 -1
$3 cav_un_auth*0100697 $a Přikryl $b Petr $p MU-W $4 070 $T Matematický ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0045941 $a Černík $b M. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0061936 $a El-Kader $b K. M. A. $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100601 $a Ulrych $b Ivo $p FZU-D $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0016778 $a Černý $b R. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0100160 $a Chvoj $b Zdeněk $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0049324 $a Cháb $b Vladimír $p MU-W $4 070 $T Matematický ústav AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1