PŘIKRYL, Petr, ČERNÍK, M., EL-KADER, K. M. A., ULRYCH, Ivo, ČERNÝ, R., CHVOJ, Zdeněk, CHÁB, Vladimír. Time-Resolved Reflectivity Studies of Phase Transition in Polycrystalline Si Induced by Excimer Laser Irradiation. In: PIZZINI, S., ed. Proceedings of Polycrystalline Semiconductors 1995. 1995, s. 41.