0157320 - PAU-O 20000006 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
Hucek, Stanislav
Angular distribution of photoelectrons from nickel: test of modified common XPS formalism.
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. Roč. 104, - (1999), s. 213. ISSN 0368-2048. E-ISSN 1873-2526
Kód oboru RIV: FP - Ostatní lékařské obory
Impakt faktor: 1.183, rok: 1999
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0054760