Počet záznamů: 1
Measurements of escape probability of photoelectrons and the inelastic mean free path in silver sulphide
- 1.
SYSNO 0134643 Název Measurements of escape probability of photoelectrons and the inelastic mean free path in silver sulphide Tvůrce(i) Zemek, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Jiříček, Petr (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Hucek, Stanislav (FZU-D)
Lesiak, B. (PL)
Jablonski, A. (PL)Zdroj.dok. Surface and Interface Analysis. Roč. 30, - (2000), s. 222-227. - : Wiley Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant 1051-10/733, CZ - Česká republika CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova escape probability * IMFP * Ag2S Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0032538
Počet záznamů: 1