Počet záznamů: 1
Interferometric probing of thin niobium layers under high electrical field using the zinc X-ray laser at PALS
- 1.
SYSNO 0134566 Název Interferometric probing of thin niobium layers under high electrical field using the zinc X-ray laser at PALS Tvůrce(i) Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Ros, D. (FR)
Rus, Bedřich (FZU-D) ORCID
Joyeux, D. (FR)
Präg R., Ansgar (FZU-D)
Kozlová, Michaela (FZU-D) RID, ORCID
Carillon, A. (FR)
Phalippou, D. (FR)
Ballester, F. (FR)
Jacques, E. (FR)
Boussoukaya, M. (FR)
Jamelot, G. (FR)Zdroj.dok. X-Ray Lasers 2002. s. 518-521. - Melville : AIP, 2002 / Rocca J.J. ISBN 0-7354-0096-2 Konference International Conference on X-ray Lasers /8./, Aspen, 26.05.2002-31.05.2002 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant LN00A100 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA1010014 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z1010921 - FZU-D Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova X-ray lasers * laser plasma * X-ray spectroscopy * X-ray optics Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0032462
Počet záznamů: 1