Počet záznamů: 1
Height profile measurement by means of white-light interferometry
- 1.0134455 - FZU-D 20030355 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pavlíček, Pavel
Height profile measurement by means of white-light interferometry.
Engineeting Mechanics 2003. Žd'ár nad Sázavou: Institute of Theoretical and Applied Mechanics, Academy of Siences of the Czech Republic, 2003 - (Náprstek, J.; Fischer, C.), s. 1-7
[National Conference with International Participation "Engineering Mechanics 2003". Svratka (CZ), 12.05.2003-15.05.2003]
Grant CEP: GA MŠMT LN00A015
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z1010921
Klíčová slova: white-light interferometry * rough surface -height profile
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0032356
Počet záznamů: 1