Počet záznamů: 1
Multiply charged ion-induced secondary electron emission from metals relevent for laser source beam diagnostics
- 1.
SYSNO ASEP 0133992 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Multiply charged ion-induced secondary electron emission from metals relevent for laser source beam diagnostics Tvůrce(i) Láska, Leoš (FZU-D)
Krása, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Stöckli, M. P. (US)
Fehrenbach, C. W. (US)Zdroj.dok. Review of Scientific Instruments. - : AIP Publishing - ISSN 0034-6748
Roč. 73, č. 2 (2002), s. 776-778Poč.str. 3 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova ion-induced secondary electron emission ; laser ion source beam diagnostics Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP IAA1010819 GA AV ČR - Akademie věd IAA1010105 GA AV ČR - Akademie věd LN00A100 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z1010921 - FZU-D Anotace The number of secondary electrons, emitted when multiply charged ions impact on metallic probe surface was measured to make the quantitative ion diagnostics based on this process more precise. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2003
Počet záznamů: 1