Počet záznamů: 1
Multiply charged ion-induced secondary electron emission from metals relevent for laser source beam diagnostics
SYS 0133992 LBL 00000nam^^22^^^^^^^^450 005 20230418210418.7 101 0-
$a eng 102 $a US 200 1-
$a Multiply charged ion-induced secondary electron emission from metals relevent for laser source beam diagnostics 215 $a 3 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257563 $1 011 $a 0034-6748 $e 1089-7623 $1 200 1 $a Review of Scientific Instruments $v Roč. 73, č. 2 (2002), s. 776-778 $1 210 $c AIP Publishing 610 1-
$a ion-induced secondary electron emission 610 1-
$a laser ion source beam diagnostics 700 -1
$3 cav_un_auth*0100347 $a Láska $b Leoš $p FZU-D $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100321 $a Krása $b Josef $p FZU-D $w Laser Interactions and Chemical Physics $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0038436 $a Stöckli $b M. P. $y US $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0038469 $a Fehrenbach $b C. W. $y US $4 070
Počet záznamů: 1