Počet záznamů: 1  

Recovery stress generation in shape memory Ti.sub.50./sub.Ni.sub.45./sub.Cu.sub.5./sub. thin wires

  1. 1.
    ŠITTNER, Petr, VOKOUN, D., DAYANANDA, G. N., STALMANS, R. Recovery stress generation in shape memory Ti50Ni45Cu5 thin wires. Materials Science and Engineering A Structural Materials Properties Microstructure and Processing. 2002, 286(-), 298-311. ISSN 0921-5093. E-ISSN 1873-4936.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.