Počet záznamů: 1
Profilometrie pomocí interference bílého světla
- 1.
SYSNO ASEP 0133767 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Profilometrie pomocí interference bílého světla Překlad názvu Profilometry by means of white light interference Tvůrce(i) Pavlíček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI ISBN 80-214-2109-6 Zdroj.dok. Inženýrská mechanika 2002 / Houfek L. ; - Hlavoň P. ; - Krejčí P.. - Brno : Institute of Mechanics of Solids, Faculty of Mechanical Enginnering Brno, University of Technology Brno, 2002 Rozsah stran s. x Forma vydání CD-ROM - CD-ROM Akce Inženýrská mechanika 2002 Datum konání 13.05.2002-16.05.2002 Místo konání Svratka Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. cze - čeština Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova profilometry ; interference ; white-light ; height profile ; rough surface Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z1010921 - FZU-D Anotace Profilometrie pomocí interference světla je metoda vhodná pro prověření topologie technických prvků, Jedná se o bezkontaktní optickou metodu, při které je proměřen výškový profil předmětu s přesností přibližne 1ćm. Překlad anotace Profilometry by means of white-light interference is a suitable method for measurement of topology of rough surfaces. This contactless optical method measures the height profile with an uncertainly of about 1ćm. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2003
Počet záznamů: 1