Počet záznamů: 1  

Profilometrie pomocí interference bílého světla

  1. SYS0133767
    LBL
      
    00000nam^^22^^^^^^^^450
    005
      
    20240111140608.1
    010
      
    $a 80-214-2109-6
    101
    0-
    $a cze
    102
      
    $a CZ
    200
    1-
    $a Profilometrie pomocí interference bílého světla
    215
      
    $c CD-ROM
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0034078 $1 200 1 $a Inženýrská mechanika 2002 $v s. x $1 541 $a Engineering mechanics 2002 $z eng $1 702 1 $a Houfek $b L. $4 340 $1 702 1 $a - Hlavoň $b P. $4 340 $1 702 1 $a - Krejčí $b P. $4 340 $1 210 $a Brno $c Institute of Mechanics of Solids, Faculty of Mechanical Enginnering Brno, University of Technology Brno $d 2002 $1 225 1 $a Inženýrská mechanika.
    541
      
    $a Profilometry by means of white light interference $z eng
    610
    1-
    $a profilometry
    610
    1-
    $a interference
    610
    1-
    $a white-light
    610
    1-
    $a height profile
    610
    1-
    $a rough surface
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0100441 $a Pavlíček $b Pavel $p FZU-D $w Classical and Quantum Optics $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    856
    4-
    $q textový soubor $s 281 KB

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.