Počet záznamů: 1
Electron probe microanalysis of nonconductive bulk samples
- 1.
SYSNO ASEP 0133467 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Electron probe microanalysis of nonconductive bulk samples Tvůrce(i) Jurek, Karel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Gedeon, O. (CZ)Zdroj.dok. Electron probe microanalysis today practical aspects / Starý V. ; Mašek K. ; Horák K.. - Praha : Czech Technical University in Prague, Faculty of Mechanical Engineering, 2000 - ISBN 80-01-02176-9 Rozsah stran s. 83-88 Poč.str. 6 s. Akce EMAS /4./ Datum konání 17.05.2000-20.05.2000 Místo konání Třešť Země CZ - Česká republika Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova electron probe ; x-ray microanalysis ; electric charging Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Anotace Electron probe x-ray microanalysis of nonconductiv samples can be distorted b electrical field formation under the grounded surface. This posibility is demonstarted by Monte carlo modeling. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2002
Počet záznamů: 1