0133305 - FZU-D 20010099 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Tarasenko, A. A. - Nieto, F. - Jastrabík, Lubomír - Uebing, C.
The influence of adatom diffusion on coverage and emission current fluctuations.
Microelectronics Reliability. Roč. 40, - (2000), s. 2023-2031. ISSN 0026-2714. E-ISSN 0026-2714
Výzkumný záměr: CEZ:A02/98:Z1-010-914
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Impakt faktor: 0.362, rok: 2000
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0031284