Dielectric response of ferroelectric liquid crystal thin layer

Počet záznamů: 1

SYSNO ASEP	0133059
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Ostatní články
Název	Dielectric response of ferroelectric liquid crystal thin layer
Tvůrce(i)	Rychetský, Ivan (FZU-D)_{RID, ORCID} Novotná, Vladimíra (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Glogarová, Milada (FZU-D)_{RID, ORCID}
Zdroj.dok.	Journal de Physique IV - ISSN 1155-4339 Roč. 10, - (2000), s. 119-122
Poč.str.	4 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	FR - Francie
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP	GA202/00/1187 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GA202/99/1120 GA ČR - Grantová agentura ČR
	KSK1010601 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z1010914 - FZU-D
Anotace	In the thin layer of the SmC* phase the unwound twisted structure or the helical structure with the dechiralization lines can appear depending on the layer thickness and the sample processing. The thickness dependent dielectric response of both structures is calculated and compared.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2001

Počet záznamů: 1