Local electronic transport in microrystalline silicon observed by combined atomic force microscopy

Počet záznamů: 1

SYSNO	0132973
Název	Local electronic transport in microrystalline silicon observed by combined atomic force microscopy
Tvůrce(i)	Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Rezek, Bohuslav (FZU-D)_{RID, ORCID} Knápek, Petr (FZU-D) Stuchlík, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Journal of Non-Crystalline Solids. 266-269, - (2000), s. 309-314. - : Elsevier
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	IAA1010809 GA AV ČR - Akademie věd
	GA202/98/0669 GA ČR - Grantová agentura ČR
	NEDO, XC
CEZ	AV0Z1010914 - FZU-D
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	NL
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0030965

Počet záznamů: 1