Počet záznamů: 1
Photolelectron diffraction study of ultrathin Fe films on Cu{111}
- 1.
SYSNO 0132406 Název Photolelectron diffraction study of ultrathin Fe films on Cu{111} Tvůrce(i) Theobald, A. (DE)
Schaff, O. (DE)
Hirschmugl, C. J. (DE)
Fernandez, V. (DE)
Schindler, K. M. (DE)
Polčík, Martin (FZU-D)
Bradshaw, A. M. (DE)
Woodruff, D. P. (GB)Zdroj.dok. Physical Review B. Roč. 59, č. 3 (1999), s. 2313-2319 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant 05625EBA6, CZ - Česká republika Jazyk dok. eng Země vyd. US Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0030432
Počet záznamů: 1