Počet záznamů: 1
Investigation of plasma polymer and nano composite polymer films by Rutherford Backscattering Spectrometry and by Elastic Recoil Detection Analysis analytical methods
- 1.
SYSNO ASEP 0105675 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Investigation of plasma polymer and nano composite polymer films by Rutherford Backscattering Spectrometry and by Elastic Recoil Detection Analysis analytical methods Překlad názvu Výzkum plasmových polymerů a nanokompozitních polymerních filmů analytickými metodami spektroskopie Rutherfordova zpětného rozptylu a analýzy detekce elestického odrazu Tvůrce(i) Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAI
Peřina, Vratislav (UJF-V) RID
Hnatowicz, Vladimír (UJF-V) RID
Biederman, H. (CZ)
Slavinská, D. (CZ)
Choukourov, A. (CZ)Zdroj.dok. Acta Physica Slovaca - ISSN 0323-0465
Roč. 54, č. 1 (2004), s. 7-10Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. SK - Slovensko Klíč. slova coatings Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GP102/01/D069 GA ČR - Grantová agentura ČR KSK1048102 GA AV ČR - Akademie věd Anotace In this work, we have studied the composition of polymer thin films prepared by plasma polymerisation and d.c. magnetron sputtering. We investigated two sets of samples, one set Ag composite layers and the second set nitrogen containing plasma polymers, both deposited on the silicon substrate. The Rutherford Backscattering Spectrometry and Elastic Recoil Detection Analysis measurement was used to characterize the composition and to determine the element depth profiles in the deposited layers Pracoviště Ústav jaderné fyziky Kontakt Markéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228 Rok sběru 2005
Počet záznamů: 1