Počet záznamů: 1
Elastic electron backscattering from silicon surfaces: effect of charge-carrier concentration
- 1.
SYSNO 0104231 Název Elastic electron backscattering from silicon surfaces: effect of charge-carrier concentration Překlad názvu Pružný odraz elektronů od povrchu křemíku: vliv koncentrace nosičů náboje Tvůrce(i) Zemek, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Jiříček, Petr (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Lesiak, B. (PL)
Jablonski, A. (PL)Zdroj.dok. Surface and Interface Analysis. Roč. 36, - (2004), s. 809-811. - : Wiley Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA202/02/0237 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova elastic peak electron spectroscopy(EPES) * inelastic mean free path(IMFP) * elastic electron backscattering probability * charge-carrier concentrations * silicon Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0011506
Počet záznamů: 1