Height profile measurement by means of white light interferometry

Počet záznamů: 1

SYSNO	0100119
Název	Height profile measurement by means of white light interferometry
Překlad názvu	Měření výškového profilu pomocí interferometrie v bílém světle
Tvůrce(i)	Pavlíček, Pavel (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Wave and Qantum Aspects of Contemporary Optics. s. 139-144. - Washington : SPIE The International Society for Optical Engineering, 2003 / Zajac M. ; Masajada J.
Konference	Polish-Czech-Slovak Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics /13./, Krzyzowa, 09.09.2002-13.09.2002
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
CEZ	AV0Z1010921 - FZU-D
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	white-light interferometry * height profile * rough surface * speckle pattern
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0007625

Počet záznamů: 1