Počet záznamů: 1
Noise in secondary electron emission: the low yield case
SYS 0028799 LBL 02925^^^^^2200289^^^450 005 20250303170709.1 014 $a 000233361100006 $2 WOS 017 7-
$a 10.1093/jmicro/dfi044 $2 DOI 100 $a 20060406d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d eng 102 $a JP 200 1-
$a Noise in secondary electron emission: the low yield case 215 $a 5 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0253713 $1 011 $a 0022-0744 $1 200 1 $a Journal of Electron Microscopy $v Roč. 54, č. 4 (2005), s. 361-365 541 1-
$a Šum sekundární emise elektronů při nízkém emisním výtěžku $z cze 610 0-
$a secondary electrons 610 0-
$a noise 610 0-
$a SEM image noise 610 0-
$a secondary emission noise 610 0-
$a statistics of secondary electrons 610 0-
$a non-Poisson factor 700 -1
$3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1