- Noise in secondary electron emission: the low yield case
Počet záznamů: 1  

Noise in secondary electron emission: the low yield case

  1. SYS0028799
    LBL
      
    02925^^^^^2200289^^^450
    005
      
    20250303170709.1
    014
      
    $a 000233361100006 $2 WOS
    017
    7-
    $a 10.1093/jmicro/dfi044 $2 DOI
    100
      
    $a 20060406d m y slo 03 ba
    101
    0-
    $a eng $d eng
    102
      
    $a JP
    200
    1-
    $a Noise in secondary electron emission: the low yield case
    215
      
    $a 5 s.
    463
    -1
    $1 001 cav_un_epca*0253713 $1 011 $a 0022-0744 $1 200 1 $a Journal of Electron Microscopy $v Roč. 54, č. 4 (2005), s. 361-365
    541
    1-
    $a Šum sekundární emise elektronů při nízkém emisním výtěžku $z cze
    610
    0-
    $a secondary electrons
    610
    0-
    $a noise
    610
    0-
    $a SEM image noise
    610
    0-
    $a secondary emission noise
    610
    0-
    $a statistics of secondary electrons
    610
    0-
    $a non-Poisson factor
    700
    -1
    $3 cav_un_auth*0101547 $a Frank $b Luděk $p UPT-D $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.