Počet záznamů: 1
Advanced optical damage studies using x-ray laser interferometric microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0025880 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Advanced optical damage studies using x-ray laser interferometric microscopy Překlad názvu Pokročilé studium poškozování optických povrchů s použitím interferometrické mikroskopie a rentgenového laseru Tvůrce(i) Rus, Bedřich (FZU-D) ORCID
Jamelot, G. (FR)
Bercegol, H. (FR)
Kozlová, Michaela (FZU-D) RID, ORCID
Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Homer, Pavel (FZU-D) RID
Polan, Jiří (FZU-D)
Stupka, Michal (FZU-D)
Cassou, K. (FR)
Kazamias, S. (FR)
Klisnick, A. (FR)
Ros, D. (FR)
Danson, C. (GB)
Hawkes, S. (GB)Zdroj.dok. Soft X-Ray Lasers and Applications /6./. - Bellingham : SPIE, 2005 / Fill E.E. - ISSN 0277-786X - ISBN 0-8194-5924-0 Rozsah stran s. 146-154 Poč.str. 9 s. Forma vydání CD - CD Akce Soft X-Ray Lasers and Applications /6./ Datum konání 01.08.2005-02.08.2005 Místo konání San Diego Země US - Spojené státy americké Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova X-ray laser ; XUV interferometry ; XUV microscopy ; laser-induced optical damage ; fused silica Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA202/05/2316 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Anotace We present early results of an application of X-ray laser, aimed at understanding the effects involved in formation of laser-induced damage in optical materials exposed to sub-ns laser pulses. For the purpose of the experiment, a novel interferometric microscopy technique was designed and tested. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2006
Počet záznamů: 1