Počet záznamů: 1

Apparatus for spectrum and intensity profile characterization of a beam, use thereof and method thereof

SYSNO	0552955
Název	Apparatus for spectrum and intensity profile characterization of a beam, use thereof and method thereof
Tvůrce(i)	Nejdl, Jaroslav (FZU-D)_{RID, ORCID}
Vyd. údaje	2021
Vlastník	Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Datum udělení patentu	09.02.2021
Číslo patentového spisu	US10914628B2
Kategorie patentu	B - USTPO (Úřad pro patenty a ochranné známky USA)
Kód vydavatele patentu	US001 - United States Patent and Trademark Office (USPTO) Alexandria
Druh dok.	Patentový dokument
Grant	CZ.02.1.01/0.0/0.0/16_019/0000789, XE - země EU
	EF16_019/0000789 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	LM2018141 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Klíč.slova	spectrometry * beam intensity profile diagnostics * XUV * X-rays
URL	https://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/060327011/publication/US10914628B2?q=US10914628B2
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0328013

Počet záznamů: 1