Počet záznamů: 1  

Apparatus for spectrum and intensity profile characterization of a beam, use thereof and method thereof

  1. 1.
    SYSNO ASEP0552955
    Druh ASEPP - Patent
    Zařazení RIVP - Patent nebo jiný výsledek chráněný podle zvláštních právních předpisů
    NázevApparatus for spectrum and intensity profile characterization of a beam, use thereof and method thereof
    Tvůrce(i) Nejdl, Jaroslav (FZU-D) RID, ORCID
    Rok vydání2021
    Využití jiným subj.A - Pro využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
    Lic. popl.A - Poskytovatel licence požaduje licenční poplatek
    Číslo pat.spisuUS10914628B2
    Datum udělení09.02.2021
    Vlastník patentuFyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
    Kód vydavatele patentuUS001 - United States Patent and Trademark Office (USPTO) Alexandria
    VyužitíA - Pouze udělený (dosud nevyužívaný) patent nebo patent využívaný jeho vlastníkem
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Klíč. slovaspectrometry ; beam intensity profile diagnostics ; XUV ; X-rays
    Vědní obor RIVBL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    Obor OECDFluids and plasma physics (including surface physics)
    CEPEF16_019/0000789 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LM2018141 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    AnotaceThe present invention concerns an apparatus for spectral and intensity profile characterization comprising: a diffractive element a beam block (3) attached to the diffractive element, the beam block (3) being positioned so as to block the passage of the direct incoming beam (1) which is not incident on the diffractive element a device for translation of the beam block (3) and the diffractive element reflective element (4) fixed detector (5) positioned on the axis of the incoming beam (1). The invention also concerns use and a method thereof. Such a compact system provides application in the field of spectrometry and diagnostics of the beam intensity profile, especially in the area of XUV and soft X-rays.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2022
    Elektronická adresahttps://worldwide.espacenet.com/patent/search/family/060327011/publication/US10914628B2?q=US10914628B2
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.