Photoinduced Resist-free Imprinting (PRI) in fullerene thin films as revealed by Grazing Incidence Small-angle X-ray scattering

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0541681
Název	Photoinduced Resist-free Imprinting (PRI) in fullerene thin films as revealed by Grazing Incidence Small-angle X-ray scattering
Tvůrce(i)	Gutiérrez-Fernández, E. (ES) Rodriguez, Álvaro (UFCH-W) García-Gutiérrez, M. C. (ES) Nogales, A. (ES) Rebollar, E. (ES) Solano, E. (ES) Ezquerra, T. A. (ES)
Korespondující/senior	Gutiérrez-Fernández, E. - Korespondující autor Ezquerra, T. A. - Korespondující autor
Zdroj.dok.	Applied Surface Science. Roč. 548, MAY 2021 (2021). - : Elsevier
Číslo článku	149254
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Institucionální podpora	UFCH-W - RVO:61388955
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	NL
Klíč.slova	Photoinduced Resist-free Imprinting (PRI) * Grazing Incidence Small-angle X-ray Scattering (GISAXS) * Laser Induced Periodic Surface Structures (LIPSS) * Fullerene (PCBM)
URL	http://hdl.handle.net/11104/0319212
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0319212

	Název souboru	Staženo	Velikost	Komentář	Verze	Přístup
	0541681.pdf	2	6.6 MB		Vydavatelský postprint	vyžádat

Počet záznamů: 1