Počet záznamů: 1  

Erbium-ion implantation of single- and nano-crystalline ZnO

  1. 1.
    SYSNO ASEP0522518
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevErbium-ion implantation of single- and nano-crystalline ZnO
    Tvůrce(i) Cajzl, J. (CZ)
    Nekvindová, P. (CZ)
    Jeníčková, K. (CZ)
    Jagerová, Adéla (UJF-V) ORCID, SAI
    Malinský, Petr (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Remeš, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID
    Neykova, Neda (FZU-D) RID, ORCID
    Chang, Yu-Ying (FZU-D)
    Oswald, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
    Kentsch, U. (DE)
    Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů11
    Zdroj.dok.Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. - : Elsevier - ISSN 0168-583X
    Roč. 464, č. 2 (2020), s. 65-73
    Poč.str.9 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovaZnO ; nanocrystalline thin films ; Erbium ; ion implantation ; luminescence
    Vědní obor RIVBG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    Obor OECDMaterials engineering
    Vědní obor RIV – spolupráceFyzikální ústav - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPLM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    GA18-03346S GA ČR - Grantová agentura ČR
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271 ; UJF-V - RVO:61389005
    UT WOS000510313800013
    EID SCOPUS85076409224
    DOI10.1016/j.nimb.2019.11.039
    AnotaceThis paper reports on the results of Er+ ion implantation into various ZnO structures - standard single crystal c-plane (0001) ZnO, nanostructured thin films and nanorods. Er+ ions were implanted using an ion implantation energy of 400 keV and implantation fluences in the range of 5 x 10(14) to 5 x 10(15) ions/cm(2). Er concentration depth profiles and the degree of crystal damage were measured using Rutherford backscattering spectrometry (RBS) and RBS/channelling (RBS/C). Additionally, Raman spectroscopy was used to analyse structural modifications of the prepared samples. The main focus was placed on the luminescence properties of various ZnO structures. The results showed that the characteristic bands of ZnO, i.e. near-band-edge (NBE) luminescence and deep-level emission (DLE) - that can be influenced by the excitation wavelength - appeared in the spectra of single crystals and nanorods. The characteristic luminescence bands of erbium ions in the NIR region appeared in non-annealed ZnO single-crystal samples and nano-crystalline films.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2021
    Elektronická adresahttps://doi.org/10.1016/j.nimb.2019.11.039
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.