Počet záznamů: 1  

Determination of elastic parameters of Si3N4thin films by means of anumerical approach and bulge tests

  1. 1.
    SYSNO ASEP0504377
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevDetermination of elastic parameters of Si3N4thin films by means of anumerical approach and bulge tests
    Tvůrce(i) Tinoco Navaro, Hector Andres (UFM-A) ORCID
    Holzer, Jakub (UFM-A) ORCID
    Pikálek, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Buchta, Zdeněk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Chlupová, Alice (UFM-A) RID, ORCID
    Kruml, Tomáš (UFM-A) RID, ORCID
    Hutař, Pavel (UFM-A) RID, ORCID
    Celkový počet autorů9
    Zdroj.dok.Thin Solid Films. - : Elsevier - ISSN 0040-6090
    Roč. 672, FEB (2019), s. 66-74
    Poč.str.9 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CH - Švýcarsko
    Klíč. slovaElastic properties ; Bulge test ; Thin film ; Finite element analysis ; Silicon nitride
    Vědní obor RIVJH - Keramika, žáruvzdorné materiály a skla
    Obor OECDCeramics
    Vědní obor RIV – spolupráceÚstav přístrojové techniky - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPEF16_013/0001823 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaUFM-A - RVO:68081723 ; UPT-D - RVO:68081731
    UT WOS000456726000011
    EID SCOPUS85059843428
    DOI10.1016/j.tsf.2018.12.039
    AnotaceThis paper describes and applies a methodology to determine the elastic properties of freestanding thin mem-branes by means of a bulge test and a numerical approach. The numerical procedure is based on the combinationof two standard methods i.e. finite element analysis and classical analytical solutions to calculate elasticproperties of thin films. Bulge tests were conducted on silicon nitride (Si3N4) monolayer of 2 × 2mm(square)and 3.5 × 1.5mm(rectangular) membranes with the aim to determine elastics properties (Young's modulus (E)and Poison's ratio (v)) that define the load-deflection curves of both membranes. With this purpose, an errorfunction was constructed for each membrane which involved finite element solutions, analytical solutions andexperimental measurements. Error functions were found and minimized by mapping a set of elastic parametersfor the two membranes (square and rectangular). A unique solution was determined in the intersection of bothlinear approximations, obtaining 236GPaforEand 0.264 forv. It is well known that in a traditional bulge testanalysis only one of both biaxial modulus can be determined and not a combination ofEandv. Numerical resultsshow that calculated load-deflection curves agree well with the measurements obtained for both square andrectangular membranes experimentally. The proposed methodology is only applicable in thin films with elasticbehavior, however generalization for more complicated geometries is possible.
    PracovištěÚstav fyziky materiálu
    KontaktYvonna Šrámková, sramkova@ipm.cz, Tel.: 532 290 485
    Rok sběru2020
    Elektronická adresahttps://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609018308484?via%3Dihub
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.