Počet záznamů: 1
Ultra-low energy SEM/STEM of graphene
- 1.
SYSNO ASEP 0501301 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Ultra-low energy SEM/STEM of graphene Tvůrce(i) Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Eliška (UPT-D) RIDCelkový počet autorů 2 Zdroj.dok. 19th World Congress on Material Science and Engineering. Proceedings, S7. - London : Omics International, 2018 - ISSN 2169-0022
S. 141-142Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce World Congress on Materials Science and Engineering /19./ Datum konání 11.06.2018 - 13.06.2018 Místo konání Barcelona Země ES - Španělsko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova ultra-low energy ; SEM ; STEM ; graphene Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Nano-materials (production and properties) Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 DOI 10.4172/2169-0022-C8-113 Anotace Graphene sheets, including multilevel stacks, are nearly fully transparent for electrons at energies standard in electron microscopes. Graphene has even been considered an ideal substrate for the deposition of, for example, organic macromolecules for their observation in a scanning (transmission) electron microscope (SEM/STEM). The cathode lens principle with a negatively biased sample in the SEM/STEM enables one to obtain an arbitrarily low energy of electrons securing an ultimately reduced interaction volume providing the image information. The image contrast has been found to be sufficient for distinguishing graphene flakes at tens and units of eV in the STEM, and the electron transmissivity surprisingly showed values in units of percent only in this energy range. Expectations based on the usual extension of the inelastic mean free path of electrons below some 50 eV have not been confirmed. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2019
Počet záznamů: 1