Počet záznamů: 1
Micro-Raman mapping of surface changes induced by XUV laser radiation in cadmium telluride
- 1.
SYSNO 0493487 Název Micro-Raman mapping of surface changes induced by XUV laser radiation in cadmium telluride Tvůrce(i) Vozda, Vojtěch (FZU-D) ORCID
Burian, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Dědič, V. (CZ)
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Hlídek, P. (CZ)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kozlová, Michaela (FZU-D) RID, ORCID
Krůs, Miroslav (FZU-D) RID
Kunc, J. (CZ)
Rejhon, M. (CZ)
Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Rocca, J.J. (US)
Franc, J. (CZ)Korespondující/senior Vozda, Vojtěch - Korespondující autor Zdroj.dok. Journal of Alloys and Compounds. Roč. 763, Sep (2018), s. 662-669. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA17-05167s GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika LTT17015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CZ.02.1.01/0.0/0.0/15_008/0000162, XE - země EU EF15_008/0000162 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova semiconductors * laser processing * crystal structure * impurities in semiconductors * atomic force microscopy * AFM * luminescence Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0286853
Počet záznamů: 1