What’s next in Scanning Low Energy Electron Microscopy?

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0481148
Druh ASEP	A - Abstrakt
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Zařazení RIV	Není vybrán druh dokumentu
Název	What’s next in Scanning Low Energy Electron Microscopy?
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Mikmeková, Eliška (UPT-D)_RID Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	4
Zdroj.dok.	Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons (SIMDALEE2017). Book of Abstracts. - Wien : Technische Universitaet Wien, 2017 S. 22
Poč.str.	1 s.
Forma vydání	Tištěná - P
Akce	SIMDALEE2017. Sources, Interaction with Matter, Detection and Analysis of Low Energy Electrons
Datum konání	18.09.2017 - 22.09.2017
Místo konání	Pula
Země	IT - Itálie
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	AT - Rakousko
Klíč. slova	SLEEM ; primary beam energy ; signal electrons
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Obor OECD	Nano-materials (production and properties)
CEP	TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Anotace	The optimum contrast can be found in the SLEEM for each specimen, when proper primary beam energy and the collection of the signal electrons by the detector align.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2018

Počet záznamů: 1