Počet záznamů: 1  

Direct measurements of the ion flux at the substrate in reactive HiPIMS

  1. 1.
    SYSNO0464208
    NázevDirect measurements of the ion flux at the substrate in reactive HiPIMS
    Tvůrce(i) Čada, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Lundin, D. (FR)
    Hubička, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok. International Conference on Plasma Surface Engineering. Abstracts. ( PSE 2016 ) /15./. S. 415-415. - Braunschweig : European Joint Committee on Plasma and Ion Surface Engineering (EJC / PISE), 2016
    Konference International Conference on Plasma Surface Engineering ( PSE 2016 ), 12.09.2016 - 16.09.2016, Garmisch-Partenkirchen
    Druh dok.Abstrakt
    Grant GA15-00863S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika
    TA03010743 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
    608800, XE - země EU
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.DE
    Klíč.slova HiPIMS * impedance * ion flux * reactive sputtering
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0263191
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.