Počet záznamů: 1
Direct measurements of the ion flux at the substrate in reactive HiPIMS
- 1.
SYSNO 0464208 Název Direct measurements of the ion flux at the substrate in reactive HiPIMS Tvůrce(i) Čada, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Lundin, D. (FR)
Hubička, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. International Conference on Plasma Surface Engineering. Abstracts. ( PSE 2016 ) /15./. S. 415-415. - Braunschweig : European Joint Committee on Plasma and Ion Surface Engineering (EJC / PISE), 2016 Konference International Conference on Plasma Surface Engineering ( PSE 2016 ), 12.09.2016 - 16.09.2016, Garmisch-Partenkirchen Druh dok. Abstrakt Grant GA15-00863S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika TA03010743 GA TA ČR - Technologická agentura ČR 608800, XE - země EU Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. eng Země vyd. DE Klíč.slova HiPIMS * impedance * ion flux * reactive sputtering Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0263191
Počet záznamů: 1