Počet záznamů: 1  

High efficiency high rate microcrystalline silicon thin-film solar cells deposited at plasma excitation frequencies larger than 100 MHz

  1. 1.
    SYSNO ASEP0456582
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevHigh efficiency high rate microcrystalline silicon thin-film solar cells deposited at plasma excitation frequencies larger than 100 MHz
    Tvůrce(i) Strobel, C. (DE)
    Leszczynska, B. (DE)
    Merkel, U. (DE)
    Kuske, J. (DE)
    Fischer, D.D. (DE)
    Albert, M. (DE)
    Holovský, Jakub (FZU-D) RID, ORCID
    Michard, S. (DE)
    Zdroj.dok.Solar Energy Materials and Solar Cells. - : Elsevier - ISSN 0927-0248
    Roč. 143, Dec (2015), 347-353
    Poč.str.7 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovaVHF ; PECVD ; microcrystalline silicon ; solar cell ; high rate ; high efficiency
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEP7E12029 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000364250200045
    EID SCOPUS84938230094
    DOI10.1016/j.solmat.2015.07.014
    AnotaceMicrocrystalline silicon thin-film solar cells were fabricated at high absorber layer deposition rates from 1.0 up to 2.5 nm/s. High efficiencies of 9.6% (1.0 nm/s) and 8.6% (2.5 nm/s) were achieved using a very high frequency (VHF) of 140 MHz for the deposition of all silicon layers (p–i–n). Using such a high frequency in the VHF band is unique in the field of thin-film silicon solar cells. The efficiencies obtained especially at very high rates belong to the highest reported efficiencies so far for this technology. This shows that VHF deposition with frequencies larger than 100 MHz is very well suited for a highly productive solar cell fabrication. The VHF power homogeneity problem can be solved by using for example the linear plasma source concept developed at FAP GmbH/TU-Dresden. We show that the efficiency at very high rates of 2.5 nm/s is limited by an increased crack formation in the absorber layer.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2016
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.