Počet záznamů: 1
Pokročilé interferometrické systémy pro měření polohy v nanometrologii
- 1.
SYSNO 0452397 Název Pokročilé interferometrické systémy pro měření polohy v nanometrologii Překlad názvu Advanced interferometry systems for dimensional measurement in nanometrology Tvůrce(i) Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Holá, Miroslava (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Oulehla, Jindřich (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Vychodil, M. (CZ)
Sedlář, P. (CZ)
Provazník, M. (CZ)Zdroj.dok. Jemná mechanika a optika. Roč. 60, č. 1 (2015), s. 14-17. - : Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GB14-36681G GA ČR - Grantová agentura ČR TA02010711 GA TA ČR - Technologická agentura ČR TA01010995 GA TA ČR - Technologická agentura ČR TE01020233 GA TA ČR - Technologická agentura ČR LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. cze Země vyd. CZ Klíč.slova interferometry systems * dimensional measurement * nanometrology Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0253412
Počet záznamů: 1