Počet záznamů: 1  

Pokročilé interferometrické systémy pro měření polohy v nanometrologii

  1. 1.
    Lazar, J., Holá, M., Hrabina, J., Oulehla, J., Číp, O., Vychodil, M., Sedlář, P., Provazník, M. Pokročilé interferometrické systémy pro měření polohy v nanometrologii. Jemná mechanika a optika. 2015, 60(1), 14-17. ISSN 0447-6441.
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.