Počet záznamů: 1
Pokročilé interferometrické systémy pro měření polohy v nanometrologii
- 1.LAZAR, J., HOLÁ, M., HRABINA, J., OULEHLA, J., ČÍP, O., VYCHODIL, M., SEDLÁŘ, P., PROVAZNÍK, M. Pokročilé interferometrické systémy pro měření polohy v nanometrologii. Jemná mechanika a optika. 2015, 60(1), 14-17. ISSN 0447-6441.
Počet záznamů: 1