MeV ion beams generated by intense pulsed laser monitored by Silicon Carbide detectors

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0448239
Název	MeV ion beams generated by intense pulsed laser monitored by Silicon Carbide detectors
Tvůrce(i)	Calcagno, L. (IT) Musumeci, P. (IT) Cutroneo, M. (IT) Torrisi, L. (IT) La Via, F. (IT) Ullschmied, Jiří (FZU-D)_RID
Zdroj.dok.	Journal of Physics: Conference Series. Vol. 508. Č. 012009. - Bristol : IOP Publishing, 2014
Konference	Plasma Physics by Laser and Applications 2013 Conference (PPLA2013), 02.10.2013-04.10.2013, Lecce
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	284464, XE - země EU
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	GB
Klíč.slova	MeV ions * plasma * SiC detector * PALS
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0249986

Počet záznamů: 1