X-ray microanalysis in ESEM and LV SEM

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0205509
Název	X-ray microanalysis in ESEM and LV SEM
Tvůrce(i)	Autrata, Rudolf (UPT-D) Jirák, Josef (UPT-D)_RID Špinka, Jiří (UPT-D)
Zdroj.dok.	Proceedings of the 8^th international seminar, held in Skalský dvůr. s. 51 - 54 / Frank L.. - Brno : Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002
Konference	Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation, Skalský dvůr, 08.07.2002-12.07.2002
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	GA102/01/1271 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z2065902 - UPT-D
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	primary electron * low vacuum * electron microscope
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0101122

Počet záznamů: 1