Počet záznamů: 1
X-ray microanalysis in ESEM and LV SEM
- 1.
SYSNO ASEP 0205509 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název X-ray microanalysis in ESEM and LV SEM Tvůrce(i) Autrata, Rudolf (UPT-D)
Jirák, Josef (UPT-D) RID
Špinka, Jiří (UPT-D)Zdroj.dok. Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr / Frank L.. - Brno : Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - ISBN 80-238-8986-9 Rozsah stran s. 51 - 54 Poč.str. 2 s. Akce Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation Datum konání 08.07.2002-12.07.2002 Místo konání Skalský dvůr Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova primary electron ; low vacuum ; electron microscope Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GA102/01/1271 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z2065902 - UPT-D Anotace The scattering of primary electrons to so-called skirt, appearing in the range of pressures used in regimes of LV SEM (low vacuum) as well as in ESEM, has no substantial influence on the spatial resolution for commonly used types of imaging in the scanning electron microscope. It demonstrates itself just as a higher share of the noise signal. What is more, it brings known substantial advantages, as that no preparation of modification of non-conductive samples is needed and observation of liquid phase containing specimens is made possible. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2003
Počet záznamů: 1