Počet záznamů: 1
X-ray microanalysis in ESEM and LV SEM
- 1.Autrata, Rudolf - Jirák, Josef - Špinka, Jiří
X-ray microanalysis in ESEM and LV SEM.
Proceedings of the 8th international seminar, held in Skalský dvůr. Brno: Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky, 2002 - (Frank, L.), s. 51 - 54. ISBN 80-238-8986-9.
[Recent trends in charged particle optics and surface physics instrumentation. Skalský dvůr (CZ), 08.07.2002-12.07.2002]
http://hdl.handle.net/11104/0101122
Počet záznamů: 1