Počet záznamů: 1
Methodology of slow electron microscopy with cathode lens
- 1.
SYSNO ASEP 0047353 Druh ASEP L - Prototyp, funkční vzorek Zařazení RIV G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek) Název Methodology of slow electron microscopy with cathode lens Překlad názvu Metodika mikroskopie pomalými elektrony s katodovou čočkou Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDRok vydání 2005 Int.kód SLEEM Lokalizace výsledku FEI Electron Optics B.V., Eindhoven, Nizozemsko Technické parametry Metodika rastrovací elektronové mikroskopie elektrony o libovolně nízké energii s vysokým rozlišením obrazu, realizovaná pomocí tzv. katodové čočky. Ekonomické parametry Podstatné rozšíření zobrazovacích možností rastrovacího elektronového mikroskopu, získání nových typů obrazových kontrastů. Název vlastníka Ústav přístrojové techniky AV ČR IČ vlastníka 68081731 Využ. jiným subjektem A - Pro využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence Požad. na licenč. popl. A - Poskytovatel licence požaduje licenční poplatek Jazyk dok. eng - angličtina Země vlastníka CZ - Česká republika Klíč. slova low energy electron microscopy ; nano-diagnostics Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace Conventional scanning electron microscope with the primary electron beam of energy 10 keV or more is equipped by the cathode lens with the sample serving as the cathode. In the field of the cathode lens the primary beam, already formed and focused, is retarded to an arbitrarily low energy, and in the same field the emitted electrons are accelerated and collimated toward optical axis. The cathode lens is completed with a detector of the signal beam, situated either above the objective lens or below it, and in the later case combined with anode of the cathode lens. Correcting effect of the cathode lens reduces significantly aberrations of the assembly and enables one to achieve image resolution in units of nanometers for the electron landing energy even in the range of units of electronvolts. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2006
Počet záznamů: 1