Počet záznamů: 1  

Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM

  1. 1.
    SYSNO0566540
    NázevKalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM
    Překlad názvuCalibration standard sample for secondary electron spectroscopy in SEM
    Tvůrce(i) Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Vyd. údaje2022
    PoddruhFunkční vzorek
    Int.kódAPL-2022-11
    Technické parametryKalibrační vzorek obsahující mikrometrové struktury s různých materiálů vykazující odlišnou emisivitu sekundárních elektronů. Tloušťka jednotlivých materiálů je 150um a šířka proužků ze stříbra a chromu je 2 respektive 1 um.
    Ekonomické parametryFunkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D.
    Název vlastníkaÚstav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
    Druh dok.Prototyp, metodika, f.vzorek, aut.software, apl.výzkum-normy, u.vzor
    Grant TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    Jazyk dok.cze
    Země vyd.CZ
    Klíč.slova test sample * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer
    Trvalý linkhttps://hdl.handle.net/11104/0337867
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.