Počet záznamů: 1
Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM
- 1.
SYSNO 0566540 Název Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM Překlad názvu Calibration standard sample for secondary electron spectroscopy in SEM Tvůrce(i) Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAIVyd. údaje 2022 Poddruh Funkční vzorek Int.kód APL-2022-11 Technické parametry Kalibrační vzorek obsahující mikrometrové struktury s různých materiálů vykazující odlišnou emisivitu sekundárních elektronů. Tloušťka jednotlivých materiálů je 150um a šířka proužků ze stříbra a chromu je 2 respektive 1 um. Ekonomické parametry Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Filip Mika, Ph.D. Název vlastníka Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. Druh dok. Prototyp, metodika, f.vzorek, aut.software, apl.výzkum-normy, u.vzor Grant TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Jazyk dok. cze Země vyd. CZ Klíč.slova test sample * scanning electron microscope * secondary electron spectrometer Trvalý link https://hdl.handle.net/11104/0337867
Počet záznamů: 1