Počet záznamů: 1
Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM
SYS 0566540 LBL 01000a^^22220027750^450 005 20230316110300.5 100 $a 20230106d m y slo 03 ba 101 $a cze 102 $a CZ 200 1-
$a Kalibrační standard pro metodu spektroskopii sekundárních elektronů v SEM 210 $d 2022 541 $a Calibration standard sample for secondary electron spectroscopy in SEM $z eng 610 $a test sample 610 $a scanning electron microscope 610 $a secondary electron spectrometer 700 -1
$3 cav_un_auth*0101596 $a Mika $b Filip $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0287343 $a Krátký $b Stanislav $p UPT-D $i D2: Speciální technologie $j D2: New Technologies $w New Technologies $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0052206 $a Pokorná $b Zuzana $p UPT-D $i D1: Elektronová mikroskopie $j D1: Electron Microscopy $w Electron Microscopy $4 070 $T Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1