Počet záznamů: 1
Comparison of micromagnetic parameters of ferromagnetic semiconductors (Ga,Mn)(As,P) and (Ga,Mn)As
- 1.
SYSNO ASEP 0435699 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Comparison of micromagnetic parameters of ferromagnetic semiconductors (Ga,Mn)(As,P) and (Ga,Mn)As Tvůrce(i) Tesařová, N. (CZ)
Butkovičová, D. (CZ)
Campion, R. P. (GB)
Rushforth, A.W. (GB)
Edmonds, K. W. (GB)
Wadley, P. (GB)
Gallagher, B. L. (GB)
Schmoranzerová, E. (CZ)
Trojánek, F. (CZ)
Malý, P. (CZ)
Motloch, P. (US)
Novák, Vít (FZU-D) RID, ORCID
Jungwirth, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Němec, P. (CZ)Zdroj.dok. Physical Review. B - ISSN 1098-0121
Roč. 90, č. 15 (2014), , "155203-1"-"155203-12"Poč.str. 12 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova ferromagnetic semiconductors ; magneto-optics Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP LM2011026 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GB14-37427G GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000344013900001 EID SCOPUS 84908206410 DOI 10.1103/PhysRevB.90.155203 Anotace We report on the determination of micromagnetic parameters of epilayers of the ferromagnetic semiconductor (Ga,Mn)As, which has easy axis in the sample plane, and (Ga,Mn)(As,P) which has easy axis perpendicular to the sample plane. We use an optical analog of ferromagnetic resonance where the laser-pulse-induced precession of magnetization is measured directly in the time domain. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2015
Počet záznamů: 1