Počet záznamů: 1
Optical refraction index and polarization profile of ferroelectric thin films
- 1.
SYSNO 0133868 Název Optical refraction index and polarization profile of ferroelectric thin films Tvůrce(i) Glinchuk, M. D. (UA)
Eliseev, E. A. (UA)
Deineka, Alexander (FZU-D)
Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCID
Suchaneck, G. (DE)
Sandner, T. (DE)
Gerlach, G. (DE)
Hrabovský, Miroslav (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. Integrated Ferroelectrics. Roč. 38, 1-4 (2001), s. 101-110 Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA202/00/1425 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z1010914 - FZU-D Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova thin film * refraction index * polarization * film thickness Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0031819
Počet záznamů: 1