Počet záznamů: 1
Escape probability of 0 1s photoelectrons leaving aluminium oxide
- 1.
SYSNO 0132111 Název Escape probability of 0 1s photoelectrons leaving aluminium oxide Tvůrce(i) Zemek, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Hucek, Stanislav (FZU-D)
Jablonski, A. (PL)
Tilinin, I. S. (US)Zdroj.dok. Proceedings of European Conference on Applied Surface and Interface Analysis- ECASIA 97. s. 840-843 / Olefjord I. ; Nyborg L. ; Briggs D.. - Chichester : John Wiley and Sons, Ltd., 1997 Konference NTSA 97 - New Trends in Surface Analysis, Bratislava, 26.11.1997-28.11.1997 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant GA202/95/0032 GA ČR - Grantová agentura ČR Jazyk dok. eng Země vyd. GB Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0030148
Počet záznamů: 1