Počet záznamů: 1  

Escape probability of 0 1s photoelectrons leaving aluminium oxide

  1. 1.
    SYSNO0132111
    NázevEscape probability of 0 1s photoelectrons leaving aluminium oxide
    Tvůrce(i) Zemek, Josef (FZU-D) RID, ORCID
    Hucek, Stanislav (FZU-D)
    Jablonski, A. (PL)
    Tilinin, I. S. (US)
    Zdroj.dok.Proceedings of European Conference on Applied Surface and Interface Analysis- ECASIA 97. s. 840-843 / Olefjord I. ; Nyborg L. ; Briggs D.. - Chichester : John Wiley and Sons, Ltd., 1997
    Konference NTSA 97 - New Trends in Surface Analysis, Bratislava, 26.11.1997-28.11.1997
    Druh dok.Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Grant GA202/95/0032 GA ČR - Grantová agentura ČR
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.GB
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0030148
     

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.