Počet záznamů: 1  

Escape probability of 0 1s photoelectrons leaving aluminium oxide

  1. 1.
    SYSNO ASEP0132111
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevEscape probability of 0 1s photoelectrons leaving aluminium oxide
    Tvůrce(i) Zemek, Josef (FZU-D) RID, ORCID
    Hucek, Stanislav (FZU-D)
    Jablonski, A. (PL)
    Tilinin, I. S. (US)
    Zdroj.dok.Proceedings of European Conference on Applied Surface and Interface Analysis- ECASIA 97 / Olefjord I. ; Nyborg L. ; Briggs D.. - Chichester : John Wiley and Sons, Ltd., 1997
    Rozsah strans. 840-843
    AkceNTSA 97 - New Trends in Surface Analysis
    Datum konání26.11.1997-28.11.1997
    Místo konáníBratislava
    ZeměSK - Slovensko
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    CEPGA202/95/0032 GA ČR - Grantová agentura ČR
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru1999

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.