Počet záznamů: 1  

Escape probability of 0 1s photoelectrons leaving aluminium oxide

  1. 1.
    ZEMEK, J., HUCEK, S., JABLONSKI, A., TILININ, I. S. Escape probability of 0 1s photoelectrons leaving aluminium oxide. In: OLEFJORD, I., NYBORG, L., BRIGGS, D., eds. Proceedings of European Conference on Applied Surface and Interface Analysis- ECASIA 97. Chichester: John Wiley and Sons, Ltd., 1997, s. 840-843.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.